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テセックの試験システムは新イミュニティ試験要求を満たします

28.04.2015

テセックより周波数帯域15 Hz ~ 150 kHzでの低周波数障害、イミュニティ試験の新要求を満たす試験システムのご提供が可能になりました。NSG 4060はEN 61326-3-1, IEC 61850-3, IEC 60255-22-7, IEC 60533/IEC 60945, IEC 61000-4-16 及び IEC 61000-4-19を含む現行規格に適合しています。

NSG 4060

多くの拡張機能を搭載し、頑丈な作りのNSG 4060はスマート電気メータ、商業用回路ブレーカ、商業用イーサネット及び船舶機器のメーカでの使用に最適なシステムです。同クラスでは最良のユーザインターフェースを持つNSG 4060は直感的なフロントパネルより完全適合試験を実施することができます。コモンモーと及びディファレンシャルモードの低周波数イミュニティを正確に試験します。

新幅広い検証用アクセサリはお求めやすい価格でコンポーネントの適合性を確証します。これらアクセサリーは社内でのディファレンシャルCDN (CDND)チェック操作を可能にしました。 

33 Vまでの連続的なレベルのコモンモード(IEC/EN 61000-4-16)または22 V / 4.5 Aまでのディファレンシャルモード 上のケーブルに障害を結合します。NSG 4060はDC及び330 Vまでの振幅の短時間試験に対応した拡張ユニットもご用意しています。


新ユニットは信号発生器、内蔵型パワーアンプ、四つのTTL入力、四つのTTL出力さらに個別モニタリング用電源と制御アプリケーションにより構成されています。ジェネレータ出力、システムと結合回路制御及び位相同期入力用のポートも搭載しています。

光RS232、RS232、LANまたはUSBよりリモート制御することができます。各ユニットには標準で二つのUSB、アナログ、デジタル及び光EUTモニタリング入力があります。


NSG 4060はすでに人気のNSG 4070 RF伝導イミュニティシステムと共通のシャーシ及びインターフェースを採用しています。ユーザフレンドリーな5.7インチカラーディスプレイ、優れたグラフィックから迅速かつ使い勝手のよい試験設定さらに重要な機能はキーから操作など搭載しています。

本体には多くの詳細セットアップ図及び使用方法が記載された取扱説明書が同梱されています。

技術仕様

  • 周波数帯域15 Hz ~ 150 kHzでの低周波数障害のイミュニティ試験
  • EN 61326-3-1, IEC 61850-3, IEC 60255-22-7, IEC 60533/IEC 60945, IEC 61000-4-16 及び IEC 61000-4-19を含む現行試験規格に適合
  • 33 Vまでの連続的レベル、IEC 61000-4-19は 22 V または 4.5 Aまでの試験
  • IEC 61000-4-16短時間試験DC付き及び330Vまでの振幅用NSG 4060拡張ユニット(オプション
 
 
 

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