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ディップ、障害 & 変動

IEC/EN 61000-4-11及びIEC/EN 61000-4-29規格に基づいたディップ、障害及び変動用ハイエンド単機能及びマルチファンクションソリューション。
テセックのジェネレータは270 V/16 Aまでの単相ディップ、障害 & 変動に使用できます。
三相試験にはProfLine systemsを推奨致します。

 
  • 製品

    製品説明

     
  • NSG 3040-DDV

    NSG 3040-DDV

    IEC 61000-4-11及びIEC 61000-4-29に基づいた270 V/16Aまでの単相ディップ、障害 & 変動試験向け単機能ジェネレータ

  • NSG 3040

    NSG 3040

    EFT/バースト(4.8kV)、サージコンビネーション波形(4.4kV)、電圧障害・変動及び磁界試験用マルチファンクションジェネレータ。お客様の試験ニーズに合わせたインパルスモジュールをご用意しています。

  • NSG 3060

    NSG 3060

    EFT/バースト(4.8kV)、サージコンビネーション波形(6.6kV)、サージテレコム 10/700、リング波形、ディップ瞬停及び変動、磁界フィールド試験向けマルチファンクションジェネレータ。お客様の試験ニーズに合わせたインパルスモジュールをご用意しています。

三相のディップ、障害 & 変動試験はProfLine セクションをご参照ください。

 
 
 

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